質量管理
密勒半導體立足于為客戶解決問題，確保產品品質與交付的穩定與可靠
通用質量指南
全員參與
- 我們專注于研發、生產和推廣高品質的集成電路產品，以滿足客戶的個性化需求。- 我們的專業質量團隊涵蓋了各業務部門的客戶質量專員，他們與我們的客戶形成緊密的合作關系，通過協調各方工作和與銷售、制造團隊的溝通，迅速應對各種質量問題。
- 客戶質量專員還承擔起產品控制、整改措施和質量提升計劃的交流工作。
不斷創新
- 密勒半導體(MILLERSEMI)獲得了國際標準化組織(ISO)的質量管理體系(ISO 9001)并一直持續遵循ISO的標準要求。- 這些指導原則會定期更新，并覆蓋我們處理材料、制造工藝、測試、控制、加工、存儲、運輸以及向客戶提供密勒半導體產品的全過程。
環境信息
各工序與原材料監管
品質設置IQC、IPQC、OQC、QA等幾大崗位，嚴格按照廠內質量管理體系文件執行品質檢測工作。依靠高精度檢測設備，減少生產品質異常,嚴格按照質量體系的要求運作，保障產品與服務質量。
環保理念
考慮到產品安全性，確保提供給客戶的產品能夠符合國際、國內法律法規及客戶對有害物質管理的要求,制定有害物質管理辦法，確保提供的產品符合無鹵， 歐盟RoHS（EURoHS）、REACH高度關注物質有害物質要求。
質量管理體系
- 已通過 ISO9001：2015質量體系認證
- 已通過 SGS 半導體檢測認證
- 已通過 多項國家知識產權局頒發的技術專利證書
穩定專業生產力
密勒半導體科技(MILLERSEMI)擁有出眾的靜動態測試系統和高質量的可靠性驗證能力
施加的應力增強或加速潛在的故障機制,并幫助我們采取措施防止故障模式,以實現對器件各項重要性能參數的全方位綜合驗證
測試設備包括:
芯片可靠性相關設備（HTRB/HTGB)
封裝可靠性相關設備（H3TRB/TC/IOL/AC/HTC)
靜動態測試系統相關設備(雙脈沖測試系統/安捷倫/開爾文測控/曲線測試儀/浪涌測試系統)等。
施加的應力增強或加速潛在的故障機制,并幫助我們采取措施防止故障模式,以實現對器件各項重要性能參數的全方位綜合驗證
測試設備包括:
芯片可靠性相關設備（HTRB/HTGB)
封裝可靠性相關設備（H3TRB/TC/IOL/AC/HTC)
靜動態測試系統相關設備(雙脈沖測試系統/安捷倫/開爾文測控/曲線測試儀/浪涌測試系統)等。
可靠性測試
我們一直致力于向客戶提供高性能，高可靠性的產品，產品滿足以下可靠性要求
| 類別 | 測試項目 | 測試條件 | 測試時間 | 樣品數 | 判定 | 參考標準 |
| Life Stress Test | HTGB | Ta=150℃，100%VgsMax | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 |
| HTRB | Ta=150℃，80%VdsMax | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A108 | |
| Environment Stress Test | Precondition | 30℃/60%RH+3 cycle reflow@260℃ (MSL3) | 192hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A113 |
| HTST | Ta=150℃ | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A103 | |
| TCT | -65~150℃ | 500Cycle | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A104 | |
| UHAST | 130℃/85%RH/33.3psia | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A118 | |
| PCT | 121℃/100%RH/29.7psia | 96hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| THT | 85℃/85%RH | 168/500 hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A102 | |
| H3TRB | 85℃，85%RH，80% VDS, up to 100V | 168/500/1000hrs | 77Pcs | 0/1 | JESD22-A101 | |
| IOL | △Tj>100℃ | Package dependent | 77Pcs | 0/1 | MIL-STD-750 Method 1037 |
